粒度表征分析仪

无论您的特定颗粒表征需求是什么,欢迎向我们咨询实现它们的技术。我们的仪器使用的技术包括库尔特原理,激光衍射,光散射和偏振光强度散射(PIDS),以提供您特定应用所需的数据,包括LS 13320 XR粒度分析仪LS 13320激光衍射粒度分析仪Multisizer 4e粒度分析仪等。

 *本产品仅供工业与科研使用,不用于临床诊断